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體積電阻率測(cè)試儀*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。
體積電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕準(zhǔn)確度高。
聯(lián)系人：石磊
地址：北京市房山區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)1號(hào)
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