一 、 前 言：

    低 溫下 高 分子 絕緣材料的工頻 和直 流擊 穿 強(qiáng)度是設(shè)計(jì) 低溫 電氣 設(shè)備 的 重 要技術(shù) 參數(shù)。 本 文側(cè) 重于 對(duì) 液氮溫度下 的 擊穿強(qiáng) 度的試驗(yàn) 與分 析 ， 然 而根據(jù)有關(guān) 文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)， 不 少 高分子 絕緣 材料在 液氮 和 液氦 溫度下 的擊穿 強(qiáng) 度數(shù)值 相差 不 大 ， 故 液氮 溫度下 的 擊穿強(qiáng) 度數(shù)據(jù) 亦 可 供 設(shè)計(jì) 液氦溫度下 工 作 的 電氣設(shè)備 時(shí) 參考。 低 溫下 的擊穿試驗(yàn) 方 法 目前 尚無(wú)統(tǒng)一標(biāo) 準(zhǔn)， 本文 對(duì) 此作一 -探 索。

二 、 試驗(yàn)方法 。 

1、試樣

采 用 目前 國(guó) 內(nèi)用 量 較 多的幾種 高分子 薄膜 材料， 如 表 所示 。 絕緣板 表 試 樣 品 種

2、電極系統(tǒng)

采 用 球?qū)?/span>板集成 電極， 使 擊穿強(qiáng) 度接近 本 征值 ， 并可 提高試驗(yàn)效 率 。 上 電極 采 用 10個(gè)直徑為 價(jià) 的 鋼珠， 鋼 珠 間 距 為 ， 下 電極為共 用的 印刷 電路用敷銅環(huán)氧 層壓 圓板， 直徑 為 。 ， 在 此 層壓 板銅箔上放置 整張試 樣， 其 上 放 厚 的帶 有 個(gè)孔 孔 徑為功 。 。 ， 間距 為 的 絕緣定位板， 而后 把 粒鋼珠放入 此孔 中， 再 在 上面加 一 塊 二厚 的帶 有 個(gè)孔 孔徑 為功 。 陰 ， 與定 位 板 的 孔 同心 的 絕緣壓 板， 且高壓 導(dǎo)線 由此 引 出， 示意 圖如 圖 所示 。 整個(gè)裝 置可放入 存有液氮 的 玻 璃 杜瓦 瓶 中。 擊穿 點(diǎn)后 取 出此裝置更換 試 樣夕 這 樣一張直徑 為 。 。 。 的試樣可 得 個(gè) 擊穿 強(qiáng) 度數(shù)據(jù)， 然后 算出平均值 、 均方差 和顯 著 性 水平 為 的置 信 界限 。

3、 試驗(yàn)條件

采 用工頻 和 直 流 兩種 電壓形式， 室 溫和 液 氮 兩種 試驗(yàn) 溫度， 室 溫下的媒質(zhì)有 空 氣和硅油 兩種 。 試驗(yàn)變壓 器 為 廠、 廠月限流 電阻為 日。 升壓速度均 為 廠 。 

三 、 試驗(yàn)結(jié)果和分析

所得擊穿 強(qiáng) 度數(shù)據(jù)經(jīng)最佳 線性無(wú) 偏 估計(jì) 和 柯爾莫 哥洛夫檢驗(yàn) 顯著 性水平 為 ， 皆服 從 威布爾分布。 各種 高分 子 薄膜材料在不 同媒 質(zhì) 、 溫度下 的交 、 直 流擊穿 電壓 和擊穿 強(qiáng) 度值如 表 所 示